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联系我们Ux-720新一代国产专业镀层厚度查验测验J 仪，选用高分辨率的Si-PIN (或许SDD硅漂移探测器) ，丈量精度和丈量成果杰出.选用了FlexFP-Multi技能，无论是出产的悉数过程中的质量操控，仍是来料查验和资料功能查验中的随机抽检租金检，咱们都会供给友爱的体会和满意检测的需求。
特性：Ux-720微移动渠道和高清CCD调配，旋钮调理规划在壳体外部，调查移动方位简略便利.
X射线荧光技能测验镀层厚度的使用，提高了大批量出产电镀产晶的查验条件，无损、快速和更精确的特色，对在电子与半导体工业中晶质的提高高了查验的保证.
Ux-720镀层测厚仪选用了华唯专利技能FlexFp -Multi .不在受规范样昂的约束，在无镀层标样的情况下直接能够测验样昂的镀层厚度，测验成果经得起科学验证。
